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10Be-AMS快速检测技术
时间:2019-03-22 来源: 作者: 点击:次

传统BeO-为引出束流的AMS方法虽然巧妙地运用了二次剥离膜技术降低了10B的干扰,但对于10Be束流的传输效率和品质也造成了损失,使得总效率大幅下降;并且所用BeO样品在制备中相对周期较长且存在一定的毒性。而利用Be的超级卤素负离子即BeF3-不仅引出束流相对BeO-提高了约5倍,而且在离子源引出时就对B抑制了约5个量级,无需使用二次剥离膜技术即可分析10Be样品,其最终能谱图如图2)所示,此方法提高了总传输效率至少3Fu et al., 2015 , Nucl. Instr. Meth. B10Be可更为快速的获得同等精度数据。同时我室样品制备上将样品处理为BaBeF4而不在是传统的BeO样品,BaBeF4不仅提供了F离子,避免了制备BeO成为气载尘埃的风险,相对BeO的步骤也更为省时和快速。可提供将来测量10Be的紧凑型AMS简化其高能端设计的可能性。本实验室这一原创性技术成果还授权了国家发明专利(付云翀,2016,发明专利)。但是,此方法还存在一定的离子源记忆效应的问题,这将是我们未来致力解决的技术难点。

2 利用超级卤素负离子方法所获的10Be标准与本底样品在探测器ΔEEf?中能谱图

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